Optilayer monitor光学监控软件
该软件皆在监测光束穿过镀膜样品时的透射（或反射）光谱，同时可以提供光谱预测功能
确保薄膜沉积及时终止。
该软件包含OptiReOpt库，它能够得到之前已镀膜层产生的偏差，并重新计算终的光谱曲线，并将其与理论（理想）光谱进行对比，通过重新优化薄膜结构来小化理论与实践的偏差。该软件支持与真空沉积系统集成，实现镀膜机挡板自动控制以及生成层终止信号。
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软件功能模块介绍：
1. 项目文件读入：能够直接读取LMR文件格式，文件内容包括基底，材料和膜系设计结构
2.参数设置，选择光谱仪类型，扫描次数，曝光时间等。
2.1 过程设置，包括起止波长，偏振态，入射角等
3 薄膜沉积过程监控
参数设置完之后，可以在薄膜沉积过程中，实时进行信号监控，在这个界面，可以显示
-理论曲线-由optilayer计算的当前膜层的理论光谱曲线
- 实时由光谱仪测量的曲线
可以在厚度选项卡中，查看已镀膜层的物理和光学厚度
4过程模拟器
根据设置的镀膜控制参数，可以模拟薄膜沉积过程
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其他特点:
• 层终止触发信号输出，层开始触发信号输入
• 镀膜过程手动终止.
• 每一层结束后自动重计算厚度和折射率
• 每两次测量之间可以增加停止沉积的信号
• 上传之前的光谱数据，从任意层开始镀膜
• 基于之前的镀膜误差，可以查看终可预测的光谱，不论前面已经镀了多少层
• 在沉积过程中，可通过对话框或控制按钮按层禁用再优化功能
