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Wooptix 核心技术源自天文学自适应光学领域的波前相位测量技术。公司凭借跨学科研发团队，致力于为晶圆厂提供高横向分辨率、秒级处理速度的光学计量检测方案，以颠覆传统计量检测行业。
基于超过 45 年光学工程经验与创新成果，Wooptix 为全球半导体制造企业与研究机构提供高精度计量工具，精确、高效地测量晶圆与光学系统，进而提升产品质量与性能。
· 波前相位分布（Wavefront Phase）
· 晶圆面形 / 形貌（Wafer Shape）
· 局部高度差与平整度